Сканирующий электронный микроскоп Tescan Vega 3SB

Сфера практического применения микроскопа TESCAN VEGA в деятельности экспертов ЛСЭ ФОРЕНС охватывает независимые судебно-технические, досудебные и криминалистические материаловедческие экспертизы. Оборудование необходимо для прецизионного исследования изломов черных и цветных металлов, анализа элементов крепежа, проверки стальных образцов, а также контроля качества конструкционных пластиков и композитов. С помощью встроенной энергодисперсионной системы эксперты осуществляют качественный и количественный элементный микроанализ непосредственно в окне штатного программного обеспечения. Выполнение таких неразрушающих тестов позволяет быстро выявлять скрытые микротрещины, фиксировать очаги зарождения пор и определять точное соответствие структуры заготовок требованиям ГОСТ и ТУ.

Главным аппаратным преимуществом колонны является запатентованная технология контроля пучка In-Flight Beam Tracing™, исключающая необходимость механической юстировки апертур при переходе от обзорного сканирования к элементному анализу. Конструктивное исполнение Wide Field Optics™ обеспечивает беспрецедентное поле зрения и свободную навигацию по карусели образцов с двукратного увеличения без привлечения внешней оптической фотокамеры. Безопасность перемещения пятиосевого столика гарантируется трехмерной схемой коллизий 3D Collision model, предотвращающей соударение деталей с чувствительными датчиками. Модульная платформа функционирует под управлением ПО Essence™, которое автоматизирует фокусировку и вычисление геометрических параметров, сводя к нулю риски операторских и расчетных погрешностей.

В практике экспертов лаборатории в Москве был рассмотрен случай, связанный с проверкой партии специальных вольфрамовых игл для наноманипуляторов и конвейерных комплектующих. При проведении планового входного контроля на приборостроительном предприятии инженеры обнаружили, что новые зонды демонстрируют повышенный изгиб и нестабильный контакт при позиционировании, хотя их общие габариты соответствовали проектным чертежам. Поставщик металлических изделий утверждал, что его продукция полностью кондиционна, а деформация острия вызвана некорректными действиями персонала при монтаже в держатели. Чтобы устранить разногласия сторон, верифицировать физико-механические характеристики и установить истинную причину изменения свойств, была назначена независимая досудебная экспертиза.

Для проведения исследования образцы игл были закреплены на алюминиевых столиках и помещены в камеру микроскопа в режиме низкого вакуума для предотвращения накопления электрического заряда. Эксперты задействовали ускоряющее напряжение 30 кВ и вывели увеличение до 50 000 крат для детального изучения геометрии вершины острия. На полученных СЭМ-изображениях высокого разрешения четко проявился скрытый производственный брак — наличие выраженной очаговой пористости и продольных микрорасслоений в приповерхностной зоне вольфрама. Сопутствующий экспресс-анализ элементного состава выявил присутствие посторонних углеродных загрязнений, нарушавших однородность сплава при спекании на заводе-изготовителе. На основании выданного официального экспертного заключения контрагент добровольно заменил некондиционную партию товара.